標(biāo)準(zhǔn)表面沒有不規(guī)則度，它也將作為我們的參考標(biāo)準(zhǔn)。Zernike Standard 矢高面稍微有些變形。中頻曲面大體上與 Zernike Standard 矢高面相同，但由于曲面上形成的波紋形狀，產(chǎn)生了相對(duì)于 Zernike 光斑輪廓不同的周圍散射光線。我們可以預(yù)期這樣的鏡頭制造時(shí)會(huì)有部分鏡頭會(huì)因光線改變了預(yù)定路徑而不符合設(shè)計(jì)的表面規(guī)定。

應(yīng)用示例 2: 天塞物鏡公差分析

此示例用于觀察天塞物鏡中頻表面的公差，我們將使用文章附件中“spacealfrequency_tol.zar”文件。

我們使用的是Paul Rudolph (USP721240)[4] 的經(jīng)典天塞鏡頭設(shè)計(jì)，系統(tǒng)的第一個(gè)表面上為中空間頻率表面（橙色突出顯示）。

以下圖所示的參數(shù)設(shè)置公差向?qū)в糜诠�差分析�?/p>

在OpticStudio中，TEZI公差操作數(shù)允許對(duì)具有軸上孔徑的標(biāo)準(zhǔn)面、非球面或環(huán)形面表面的不規(guī)則性進(jìn)行自動(dòng)公差擾動(dòng)，其他表面類型則不允許使用 TEZI。但我們可以仍使用 TPAR 來擾動(dòng)曲面的參數(shù)，多邊形物體和CAD文件（如STEP和IGES文件）則無法進(jìn)行擾動(dòng)。

設(shè)置參數(shù)為：

振幅= 5.00E-004mm

頻率 w0 =1 cycle/mm

相位 φ0 = 0.00 degrees 

Zernike  X 偏心 = 0.2

Zernike  Y 偏心 = -0.1

Zernike 1 = 1.00E-003

Zernike 2 = -4.00E-003

Zernike 3 = -2.00E-003

Zernike 4 = 1.00E-003

Zernike 5 = 5.00E-004

Zernike 6 = 1.00E-004

Zernike 7 = 2.00E-003

Zernike 8 = 1.00E-003

Zernike 9 = -5.00E-003

Zernike 10 = 1.00E-003