如何對中頻誤差進行評估和公差分析
本文我們介紹了如何使用周期性空間頻率表面來建模旋轉對稱曲面的不規(guī)則度(例如由于金剛石車削而產(chǎn)生的不規(guī)則度)。
附件中提供的“MC_BEST.ZMX”和“MC_WORST.ZMX”可以用來檢查。 我們可能會碰到獲得性能較差結果的情況。所以,這要求我們的公差參數(shù)必須設置為合理的值,或者憑借經(jīng)驗得出的更好的參數(shù)方案。制造商也可能提供類似零件的性能表現(xiàn)信息,或者幫助預測最壞的結果,在確定設計方案前,這些信息是鏡頭設計過程中的關鍵。 注意事項 大部分面型都考慮了掠入射的情況,但是中頻面型的周期部分沒有考慮掠入射,所以有些情況可能無法提供準確的結果,比如一種廣角物鏡的第一個表面。此DLL將不適用于這種情況。 對于從高折射率材料到低折射率材料的表面,波紋表面上可能會發(fā)生全內反射 (TIR),從而使光線追跡停止。 周期非常小的不規(guī)則度(達到波長的大小量級時)計算可能不準確,因為該表面將無法考慮衍射效應。 對于模壓塑料光學零件,形狀上的 根切 (undercut) 是可以進行光線追跡的,但并不實際。 總結 我們研究了一種零件加工或模造上可能出現(xiàn)的同心加工誤差和不規(guī)則度的建模方法。原理是將偶數(shù)非球面、Zernike多項式和周期函數(shù)結合,并編成用戶定義的DLL,使其成為參數(shù)化表面(不同于CAD物體的非參數(shù)化表現(xiàn)形式)。使用周期分量作為參數(shù)實現(xiàn)了序列模式下的設計、仿真以及運行公差分析的能力。 本文來自微信公眾號ZemaxChina,推薦關注!
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