近日，中國科學院計劃財務(wù)局組織驗收專家對新疆理化技術(shù)研究所承擔的中科院科研裝備研制項目——光電成像器件抗輻射性能檢測設(shè)備”進行了驗收。

　　該設(shè)備由光電響應(yīng)性能檢測分系統(tǒng)、光譜傳遞函數(shù)與光譜響應(yīng)度檢測分系統(tǒng)、輻射定標分系統(tǒng)、控制與數(shù)據(jù)處理分系統(tǒng)及試驗輔助裝置等部分組成。該設(shè)備具有檢測典型光電成像器件飽和輸出電壓、飽和曝光量、光輻射響應(yīng)度、相對光譜響應(yīng)、響應(yīng)度非均勻性、電荷轉(zhuǎn)移效率、光譜和白光傳遞函數(shù)、暗信號、暗噪聲、噪聲等效曝光量、動態(tài)范圍、非線性度、固態(tài)圖片噪聲等主要特性參數(shù)的功能，并可測定光電成像器件（CCD）受輻照后輻照劑量與CCD特性參數(shù)衰變的關(guān)系。

　　驗收專家組認真聽取了項目負責人郭旗研究員作的項目工作情況匯報，并就相關(guān)問題進行了提問和討論，一致認為光電成像器件抗輻射性能檢測設(shè)備是一套光電成像器件抗輻射性能定量檢測與評價系統(tǒng)，在國內(nèi)首次實現(xiàn)了CCD等光電成像器件抗輻射性能的全參數(shù)定量測試與分析；項目方案設(shè)計合理，技術(shù)路線正確，檔案與技術(shù)資料翔實、齊套，全面完成了實施方案規(guī)定的各項功能和技術(shù)指標要求；該設(shè)備已在航科集團、中電集團、中科院長春光機所等多家衛(wèi)星、載荷及器件研制單位的光電成像器件（CCD、CMOS傳感器）抗輻射性能考核與評估中得到了成功的應(yīng)用。項目經(jīng)費使用合理，按照項目任務(wù)書要求完成了各項研制任務(wù)。驗收專家組一致同意通過驗收。

　　該研制項目在國內(nèi)首次建立了定量評價光電成像器件抗輻射性能的檢測設(shè)備；首次實現(xiàn)了輻照試驗中CCD等光電成像器件性能參數(shù)較全面的定量檢測與分析；形成的光電成像器件抗輻射性能檢測技術(shù)與方法，填補了國內(nèi)光電成像器件檢驗領(lǐng)域的空白，為相關(guān)檢測工作的標準化和規(guī)范化奠定了基礎(chǔ)。