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可靠度證明試驗(Reliability Demonstration Test) x,*t/nzR  
常用方法：高溫加速模式(Arrhenius model- Equation 1) 3~09)0"!d  
優(yōu)點：實驗結(jié)果+統(tǒng)計數(shù)據(jù)- 歷史悠久且買主較不會質(zhì)疑 V1V4
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缺點：由于現(xiàn)今產(chǎn)品之Cycle time短，近幾年客戶端對IT類產(chǎn)品壽命要求須達五年也越來越多，因此試驗通常耗時較久，因此若以適當之溫度應(yīng)力分析方法將可大幅縮短試驗之進行時程。 IIEU{},}z  
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市場回饋信息(Field data) [GT1,(}. Z  
優(yōu)點：真實,無庸置疑 aRKG)0=  
缺點：需要較長時間與足夠市場回饋信息，且一但發(fā)生問題時早已數(shù)千或數(shù)萬的產(chǎn)品已投入市場。