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Auto Curve Tracer IV自動曲線追蹤儀應(yīng)用范圍： 6+:;Mb_S  
1.測量封裝后芯片的I/V曲線，可以通過好壞樣品的曲線比對確認(rèn)芯片的漏電情況，可以幫助確認(rèn) EMMI或Delayer等后續(xù)操作的方案，以便快速的找到異常位置----為FA電性分析第一步驟。 Nr`v|_U  
2.快速篩選大量IC在電性功能上的好與壞（良品與不良品）。 N\Ab0mDOV.  
3.Open/Short Test，使用I/V curve trace測量，適用于客退品的分析，可以簡單快速確認(rèn)芯片狀 態(tài)----是短路還是開路。