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Auto Curve Tracer IV自動(dòng)曲線(xiàn)追蹤儀 自動(dòng)曲線(xiàn)追蹤儀(Auto Curve Tracer)提供DC半導(dǎo)體電子組件及導(dǎo)體組件特性測(cè)量、電性故障分析量測(cè)(EFA, Electrical Failure Analysis)及曲線(xiàn)繪圖(IV-CURVE)。 Auto Curve Tracer IV自動(dòng)曲線(xiàn)追蹤儀應(yīng)用范圍： 1.測(cè)量封裝后芯片的I/V曲線(xiàn)，可以通過(guò)好壞樣品的曲線(xiàn)比對(duì)確認(rèn)芯片的漏電情況，可以幫助確認(rèn) EMMI或Delayer等后續(xù)操作的方案，以便快速的找到異常位置----為FA電性分析第一步驟。 2.快速篩選大量IC在電性功能上的好與壞（良品與不良品）。 3.Open/Short Test，使用I/V curve trace測(cè)量，適用于客退品的分析，可以簡(jiǎn)單快速確認(rèn)芯片狀 態(tài)----是短路還是開(kāi)路。 |
