高分辨透射電子顯微鏡是研究微觀結(jié)構(gòu)的有力工具。獲得可解釋的高分辨像，樣品厚度要滿足苛刻的要求-弱相位物體近似�？梢赃x擇在Scherzer欠焦下觀察，但有時(shí)不得不在大欠焦下拍攝圖像提高圖像襯度，比如在冷凍電鏡中通常拍攝的離焦量為1-2μm，通過扣除成像過程中的襯度傳遞函數(shù)來獲得樣品的投影結(jié)構(gòu)。實(shí)際中，很難獲得如此薄的樣品（冷凍電鏡中樣品厚度通常在100nm左右），此時(shí)高分辨成像過程中電子束之間會(huì)發(fā)生強(qiáng)烈的相互作用。高分辨電子顯微像包含線性成像信息、非線性成像信息，而已有的像襯理論通常以線性信息為研究對象，難以滿足定量化的要求，因此有必要對非線性信息進(jìn)行更加深入的研究。 h3`}{ w  
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