另外,要做單層時(shí),先確認(rèn)一下你的分光儀測(cè)量范圍和手頭的光學(xué)軟件是否可以用,里面有多少材料庫,不夠的話去查一下自己做材料。(推薦麥克勞德,當(dāng)然TFC也可以) ,CP&o
一般單層厚度在測(cè)量范圍內(nèi)3~5個(gè)PEAK(用光學(xué)軟件模擬一下就可以知道)。 U1=]iG<%
SiO2一般折射率變化不會(huì)太大,所以直接用光學(xué)軟件的折射率也可以。 AmX ~KK
(還有就是有些分光儀分辨率不高,做出來的SiO2曲線毛刺很多,反倒不如軟件里的折射率準(zhǔn)確) `s\E"QeZN
做的話多用幾個(gè)坩堝,一個(gè)坩堝做很厚的膜層不好(打坑深了分布變了修正板就不準(zhǔn)了)