近期，中國(guó)科學(xué)院合肥物質(zhì)科學(xué)研究院固體物理研究所研究員李廣海課題組在高性能紫外光探測(cè)薄膜器件研究方面取得進(jìn)展，相關(guān)結(jié)果發(fā)表在ACS Applied Materials & Interfaces上，并申請(qǐng)國(guó)家發(fā)明專利2件。 ej7N5~!,s  
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　　紫外探測(cè)器在空間天文望遠(yuǎn)鏡、軍事導(dǎo)彈預(yù)警、非視距保密光通信、海上破霧引航、高壓電暈監(jiān)測(cè)、野外火災(zāi)遙感及生化檢測(cè)等方面具有廣泛的應(yīng)用前景。在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，由于自然環(huán)境的不確定性，待測(cè)目標(biāo)的紫外光強(qiáng)度通常不高，環(huán)境中存在著大量對(duì)紫外光具有強(qiáng)吸收和散射能力的氣體分子或塵埃，導(dǎo)致最終到達(dá)探測(cè)器可檢測(cè)的紫外光信號(hào)非常弱。因此，提高紫外探測(cè)器對(duì)弱光的探測(cè)能力至關(guān)重要。探測(cè)率(detectivity)是衡量探測(cè)器件對(duì)弱光檢測(cè)能力的重要指標(biāo)，探測(cè)率由響應(yīng)度（responsivity）和暗電流密度共同決定。響應(yīng)度越高，暗電流密度越低，器件的探測(cè)率越高。高探測(cè)率更有利于弱紫外光的探測(cè)。然而，對(duì)于大部分半導(dǎo)體光導(dǎo)探測(cè)器而言，響應(yīng)度高的器件常伴隨著較高的暗電流；提高材料質(zhì)量，減少缺陷可降低器件暗電流，但響應(yīng)度隨之減小。因此，器件探測(cè)率難以提升，限制了光導(dǎo)探測(cè)器在弱紫外光檢測(cè)方面的應(yīng)用。 aA*h