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大阪大學(xué)開發(fā)了一種在亞原子尺度上多向同時(shí)探測材料的顯微技術(shù)

發(fā)布:ttb2016 2017-05-19 11:08 閱讀:1559
原子力顯微鏡(AFM)是一種非常敏感的技術(shù),使我們能夠通過一個(gè)精確控制的尖端來在原子尺度上對材料進(jìn)行成像和/或表征它們的物理性能。然而,傳統(tǒng)的AFM只提供與表面垂直(Z方向)的力學(xué)分量,而忽略平行于表面的分量(X和Y方向)。 (fC [Y  
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