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Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)從入門到精通	Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)從基礎(chǔ)到實(shí)踐	成像衍射光學(xué)元件設(shè)計(jì)及應(yīng)用	現(xiàn)代光學(xué)與光子學(xué)技術(shù)
訊技光電:VirtualLab Fusion獨(dú)家供應(yīng)商	微小光學(xué)與微透鏡陣列	光學(xué)設(shè)計(jì)與光學(xué)元件	計(jì)算光學(xué)帶來的成像革命

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[討論]大口徑鏡片粗糙度測量難題 [復(fù)制鏈接]

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離線nancy-y

實(shí)習(xí)生

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只看樓主倒序閱讀樓主發(fā)表于: 2013-05-31

對于光學(xué)表面的評價(jià)，可以有兩個(gè)重要指標(biāo)：表面面形和表面粗糙度。一般地，光學(xué)表面面形通過干涉儀來測量；而粗糙度一般采用光學(xué)輪廓儀或掃描探針顯微鏡測量。我們這里主要討論粗糙度的測量問題。