一種基于Shack-Hartmann原理的新一代光學(xué)診斷儀器，不僅可以用于近軸on-axis光學(xué)質(zhì)量測試，還可以用于離軸off-axis光學(xué)測量，并可用于復(fù)雜透鏡測試 l#[Z$+!09  
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光學(xué)透鏡及鏡頭設(shè)計隨著成像器件尺寸的增大、像元的越來越小，變得越來越復(fù)雜。最大的芯片可達 36.7mmX49.0mm ,手機芯片也達到500萬像素。這些參數(shù)給光學(xué)設(shè)計和測試帶來新的挑戰(zhàn)。理想的測試設(shè)備是既能夠在生產(chǎn)線上進行Go/No Go 測試，又可以作為一個光學(xué)質(zhì)量診斷設(shè)備，而且方便使用。 6{)pF  
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干涉儀和MTF測試是傳統(tǒng)的透鏡或鏡頭的測試方法。干涉儀對得到表面的細節(jié)信息非常有用，但是相對較貴且不易應(yīng)用到生產(chǎn)線上。尤其，干涉儀不能完成離軸光學(xué)測試，且只能工作在某一固定波長而無法對色差進行測試。MTF測試可以用于離軸測量，得到的測試信息主要是GO/NO GO信息，而且，由于采用了較多地移動部件進行掃描測試來尋找焦點，維護保養(yǎng)也是個問題。 $@
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理想的測試系統(tǒng)應(yīng)該是既可以得到干涉儀提供的詳細測試信息（澤尼克系數(shù)、點陣圖、點擴散函數(shù)、MTF）,并且系統(tǒng)應(yīng)該堅固耐用（測試結(jié)果不受震動和氣流影響），又可以兼顧離軸和近軸測試，還可以靈活的進行配置以完成不同類型透鏡的測試任務(wù)。此外還可以對色差進行測試,；能夠適應(yīng)不同環(huán)境、不同光學(xué)元件的測試需求；沒有移動部件以適應(yīng)生產(chǎn)環(huán)境的測試需要；系統(tǒng)緊湊、測試速度快；可以用于在線調(diào)試優(yōu)化透鏡系統(tǒng)。SpotOptics 的波前測試系統(tǒng)就是這樣的一個系統(tǒng)（如圖1所示） if&bp ,  
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5個波前探測器，一個用于近軸光學(xué)測試，另外4個用于離軸測量，即構(gòu)成一個手機相機鏡頭的光學(xué)質(zhì)量測試系統(tǒng)。多針 孔光源發(fā)出的光照射到手機鏡頭上，5個接受波前探測相機得到點陣圖像。利用高質(zhì)量的鏡頭的平行光來得到校正圖像。經(jīng)過軟件分析，可以對鏡頭的質(zhì)量好壞進行分類。整個測試時間不超過5秒鐘。離軸測試的角度可以自定義。 i]Mem