X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)：通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線，通過分析次級X射線的方法叫做X射線熒光光譜分析。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為11號元素 （Na）到92號元素（U）。 IJb1) ZuR  
t,r&SrC  
一臺典型的X射線熒光光譜分析（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器通過軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。作為一種元素分析技術，現在已完全成熟，已廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域。 Bb2r95h}^  
W@uH!n>k  
目前X射線熒光光譜分析儀分為波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)兩種，以下是它們原理構造圖： AcfkY m~  
7.Kjg_N#Tr  

圖片:波長色散譜儀.gif

1Ag