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    (中科院)集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證 [復(fù)制鏈接]

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    離線ghost08
     
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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2010-07-09
    關(guān)鍵詞: 電路資料
    (中科院)集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證,這個(gè)資料還不錯(cuò)哦! L]C|&K P  
    `"* ]C  
    摘要:設(shè)計(jì)驗(yàn)證(Design Verification)是集成電路設(shè)計(jì)中不可或缺的重要組成部分。功能驗(yàn)證是設(shè)計(jì)驗(yàn)證最基本的內(nèi)容,用于判別設(shè)計(jì)規(guī)范(Specification)和實(shí)現(xiàn)(Implementation)之間是否一致。本文介紹模擬驗(yàn)證、形式驗(yàn)證中的等價(jià)性檢驗(yàn)(Equivalence Checking)和模型檢驗(yàn)(Model Checking),介紹設(shè)計(jì)驗(yàn)證的基本原理以及我們?cè)谠O(shè)計(jì)驗(yàn)證方面的基礎(chǔ)研究成果和工程應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)。
    附件: (中科院)集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證.rar (260 K) 下載次數(shù):20 ,售價(jià):2光幣[記錄]
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    cyqdesign 光幣 +5 - 2010-07-09
     
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    只看該作者 1樓 發(fā)表于: 2011-08-20
    I like it! Thanks! ^mA