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    [分享]非接觸式測(cè)量的分類及其原理 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2010-06-10
    非接觸式測(cè)量根據(jù)測(cè)量原理的不同,有光學(xué)測(cè)量、超聲波測(cè)量、電磁波測(cè)量、紅外測(cè)量、攝影測(cè)量等方式。 Fr-SvsNFB  
    <_+X 88  
    一、光學(xué)測(cè)量法可分為激光三角測(cè)量法、機(jī)器視覺(jué)法、莫爾輪廓法、相位測(cè)量輪廓法、掃描隧道顯微鏡( STM)法、光纖法、激光干涉法、激光掃描法等 。 zt%Mx>V@  
    /$m;y[[  
    1.光學(xué)三角測(cè)量法 DmcZta8n]  
    =_^X3z0  
    分為直射式光學(xué)三角法測(cè)量原理和斜射式光學(xué)三角法測(cè)量原理,按照測(cè)量方法可分為點(diǎn)光源入射、線光源入射和柵光源入射三種形式; e3\T)x &=  
    *qq+jsA6wH  
    2.莫爾輪廓法:是通過(guò)一塊基準(zhǔn)光柵來(lái)檢測(cè)輪廓面的影柵或像柵,并依據(jù)莫爾圖案分布規(guī)律推算出輪廓面形狀的全場(chǎng)測(cè)量方法。投射在三維輪廓面上的變形光柵,其光場(chǎng)分布函數(shù)可表示成空間相位調(diào)制信號(hào),待測(cè)物體偏離參考平面時(shí)因影柵條紋位置變化而引起的空間相位改變量,待測(cè)物體的高度信息就包含在這一相位調(diào)制項(xiàng)中; LP=)~K<  
    rm_Nn8p,  
    3.相位測(cè)量輪廓法 :(%5:1W  
    q3`u1S7Z7  
    Satoru Toyooka和Tuuji Iwaasa在1986年提出了三維輪廓表面的空間相位檢測(cè)法。是用TV相機(jī)來(lái)采集物體上變形光柵圖像的灰度信息,然后由計(jì)算機(jī)按不同與FTP的規(guī)則進(jìn)行相位解調(diào)和高度計(jì)算,從而獲得需要點(diǎn)的坐標(biāo); iy"*5<;*DD  
    =(^3}x  
    4.掃描隧道顯微鏡法 W g! Lfu  
    ="e+W@C  
    利用量子理論中的隧道效應(yīng),該掃描運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)的作用是產(chǎn)生探針相對(duì)于樣品的三維掃描運(yùn)動(dòng),其運(yùn)動(dòng)部件的直線性、正交性運(yùn)動(dòng)的重復(fù)性和穩(wěn)定性都達(dá)到了前所未有的高要求; HaYo!.(Fv  
    Q2> gU#  
    5.光纖法 .+qpk*V\  
    5V-I1B&  
    光纖傳感器能實(shí)現(xiàn)“傳”和“感”的結(jié)合;體積小、質(zhì)量輕、抗電磁能力強(qiáng)、靈敏度高、易彎曲,可遠(yuǎn)距離觀察和遙測(cè); 5r0YA IJ  
    KPki}'GO  
    6.激光干涉法 'GScszz  
    $[|mGae  
    干涉法一直是精密線位移與角位移的有效測(cè)量手段。激光光源的應(yīng)用徹底克服了單色光源對(duì)干涉儀的限制。光電轉(zhuǎn)換器件和電子技術(shù)的迅速發(fā)展及應(yīng)用改變了傳統(tǒng)的干涉條紋處理方法; I^]nqK  
    ^zr`;cJ+c  
    7.激光掃描法 dr"1s-D4IQ  
    7p[n  
    激光掃描法主要用于測(cè)量工件的幾何尺寸,如長(zhǎng)度、厚度、外徑等。以He- Ne激光器或半導(dǎo)體激光器為光源,通過(guò)一個(gè)旋轉(zhuǎn)的多面體將激光束自上而下掃描到被測(cè)物體上,經(jīng)過(guò)光電接收器件的轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)處理,得出所測(cè)結(jié)果。像經(jīng)緯儀測(cè)量系統(tǒng)、全站儀坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)、激光跟蹤測(cè)量系統(tǒng)、室內(nèi)GPS測(cè)量系統(tǒng)、激光跟蹤測(cè)量系統(tǒng)都基于該原理 。 UxBpdm%dvP  
    '%;m?t% q  
    二、超聲波測(cè)量測(cè)量時(shí),測(cè)頭發(fā)射一定速率的波,記錄被測(cè)量物體反射回來(lái)波的時(shí)間來(lái)計(jì)算被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo),缺點(diǎn)連續(xù)采集力較差,屬于無(wú)損檢測(cè),多用于復(fù)合材料和陶瓷材料的裂紋檢測(cè)[ 9 ] 。 05R@7[GWq  
    EM_d8o)`B  
    三、電磁波測(cè)量利用CT掃描設(shè)備對(duì)零件經(jīng)過(guò)CT層析掃描后,獲得一系列斷面圖像切片和數(shù)據(jù)。這些切片和數(shù)據(jù)提供零件截面輪廓及其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的完整信息,可進(jìn)行工件的形狀、結(jié)構(gòu)和功能分析。 p7 ~!z.)o  
    ry]l.@o;  
    四、紅外檢測(cè)紅外探測(cè)器的發(fā)展是紅外技術(shù)發(fā)展中最令人矚目的一個(gè)方面,成像探測(cè)的多元陣列探測(cè)技術(shù),使紅外探測(cè)技術(shù)不斷革新。在軍事制導(dǎo)、探測(cè)方面應(yīng)用較多。
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    cyqdesign 金錢 +5 - 2010-06-10
     
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    只看該作者 1樓 發(fā)表于: 2010-07-10
    了解一下
    離線seanxcheng
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    只看該作者 2樓 發(fā)表于: 2010-07-18
    攝影測(cè)量 沒(méi)有怎么說(shuō)
    離線wangguo0123
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    只看該作者 3樓 發(fā)表于: 2011-11-23
    學(xué)習(xí)了,不錯(cuò)