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    [原創(chuàng)]光學(xué)薄膜設(shè)計軟件Optilayer使用實例2:設(shè)計和優(yōu)化示例 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2009-06-10
    關(guān)鍵詞: Optilayer
    光學(xué)薄膜設(shè)計軟件Optilayer使用實例:設(shè)計和優(yōu)化示例 ){:aGGtko  
    #`$7$Y~]  
    參數(shù)為:500-600nm AR  QWM@500,   12L     基底:GLASS(1.52) (YOgQ)},  
    c"ztrKQQ  
    層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). di 5_5_$`o  
    CmOb+:4@K  
    設(shè)計:同Evaluation過程基本一樣,區(qū)別在于多加入了設(shè)計目標Target的輸入.打開Datebase窗口并單擊Target,輸入設(shè)計目標500-600nm范圍的減反膜: Vvj]2V3  
    Izu.I_$4  
    Cs{f'I  
    單擊New,輸入目標名稱AR500-600,單擊OK.出現(xiàn)目標輸入窗口: 4;||g@f'[