光學(xué)薄膜設(shè)計軟件
Optilayer使用實例:設(shè)計和優(yōu)化示例
){:aGGtko #`$7$Y~] 參數(shù)為:500-600nm AR QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52)
(YOgQ)}, c"ztrKQQ 層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3).
di5_5_$`o CmOb+:4@K 設(shè)計:同Evaluation過程基本一樣,區(qū)別在于多加入了設(shè)計目標Target的輸入.打開Datebase窗口并單擊Target,輸入設(shè)計目標500-600nm范圍的減反膜:
Vvj]2V3
Izu.I_$4 Cs{f'I 單擊New,輸入目標名稱AR500-600,單擊OK.出現(xiàn)目標輸入窗口:
4;||g@f'[