光學薄膜設(shè)計軟件
Optilayer使用實例：設(shè)計和優(yōu)化示例
Rq~\Yf+Pm 6*%3O=* 參數(shù)為：500-600nm AR QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52)
o-2FGM`*VB Ac!, #Fq 層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3).
@@K@;Jox _,(]T&j #2 設(shè)計：同Evaluation過程基本一樣，區(qū)別在于多加入了設(shè)計目標Target的輸入.打開Datebase窗口并單擊Target，輸入設(shè)計目標500-600nm范圍的減反膜：
^l;nBD#nJ 
U;o[>{ L iD,iv 單擊New，輸入目標名稱AR500-600，單擊OK.出現(xiàn)目標輸入窗口：
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q 1a}o% ;xaOve;9 圖中Characteristic(s)項可以改變所要考察的參數(shù)的類型，本例中選擇RA。The number of spectral points項即為表述目標波長500-600nm范圍的AR膜所需
光譜點數(shù)，可自己根據(jù)經(jīng)驗輸入，也可由本軟件給出的經(jīng)驗公式算出（點擊？輸入?yún)?shù)即可）。
"ut:\%39. 
J;4x-R$W "| w..%Wc 單擊Next_Apply即可。
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i|+ EC_^< |4//%Ll/ 于上表中單擊
波長中任意一格，Edit_Grid Generator_Linear，出現(xiàn)
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0 ;kcSz ;mH1J'.(a 網(wǎng)格生成窗口，輸入點1-21時波長為500-600.單擊OK.（單擊右鍵Grid Generator_Linear亦可）
G4->7n N 
]bCeJE.+) iaO;i1K5U 單擊OK.再Load新建的目標，
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