一. 薄膜設(shè)計(jì)中數(shù)理概念的引入 gm1 7VrC  
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光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)的重大變革：Philip Baumeister于1958年提出將設(shè)計(jì)問題轉(zhuǎn)換為優(yōu)化問題來考慮。 3 {OZdl|  
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而優(yōu)化問題則由一系列設(shè)計(jì)參數(shù)（通常為層厚度）構(gòu)成的評價(jià)函數(shù)來表達(dá)，使評價(jià)函數(shù)最小化則為膜系設(shè)計(jì)的目標(biāo)。 {[[j