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EMD代理美國(guó)SCI高精準(zhǔn)薄膜度量系統(tǒng)與軟件分析產(chǎn)品，美國(guó)SCI為世界薄膜度量系統(tǒng)和分析軟件行業(yè)的領(lǐng)軍者，其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體，光電，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，顯示器，微型機(jī)電系統(tǒng)以及光附膜產(chǎn)業(yè)，SCI的薄膜特性度量系統(tǒng)品種豐富，從臺(tái)式研發(fā)設(shè)備到全自動(dòng)生產(chǎn)工具以及分析/設(shè)計(jì)軟件應(yīng)有盡有。 Pj#<K%Bz  
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FilmTek&#8482;，為SCI出產(chǎn)的基于分光光度技術(shù)的度量系統(tǒng)，有多種不同配置，配合不同需求，可通過(guò)反射，透射，多角度反射，橢圓分光，偏振等方式測(cè)量多層或單層，感光層材質(zhì)可為金屬，半導(dǎo)體，非晶體，水晶，絕緣體的薄膜，光源旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償以及組合型分光系統(tǒng)配以常規(guī)入射反射計(jì)可獲得最佳的測(cè)量效果，對(duì)于極薄型以及博厚型薄膜可同時(shí)測(cè)量： ]9YJ,d@J  
1.多層厚度（1&Aring; 到 250 microns） w,.+IV$Kk  
2.折射率n X^T:8npxt  
3.吸收系數(shù)k q-  
4.雙折射率 m4TE5q%