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EMD代理美國SCI高精準薄膜度量系統(tǒng)與軟件分析產(chǎn)品，美國SCI為世界薄膜度量系統(tǒng)和分析軟件行業(yè)的領(lǐng)軍者，其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體，光電，數(shù)據(jù)存儲，顯示器，微型機電系統(tǒng)以及光附膜產(chǎn)業(yè)，SCI的薄膜特性度量系統(tǒng)品種豐富，從臺式研發(fā)設(shè)備到全自動生產(chǎn)工具以及分析/設(shè)計軟件應(yīng)有盡有。 NI:OL  
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FilmTek™，為SCI出產(chǎn)的基于分光光度技術(shù)的度量系統(tǒng)，有多種不同配置，配合不同需求，可通過反射，透射，多角度反射，橢圓分光，偏振等方式測量多層或單層，感光層材質(zhì)可為金屬，半導(dǎo)體，非晶體，水晶，絕緣體的薄膜，光源旋轉(zhuǎn)補償以及組合型分光系統(tǒng)配以常規(guī)入射反射計可獲得最佳的測量效果，對于極薄型以及博厚型薄膜可同時測量： ML$#&Z@ *7  
1.多層厚度（1Å 到 250 microns） SmyJ@.L"  
2.折射率n  `m_fi  
3.吸收系數(shù)k N{RHbSa(  
4.雙折射率 v{lDEF@2^N  
5.能隙（Eg） *2pE39  
6.表面粗糙度和損傷 "/^kFsvp  
7.多孔性，薄膜成份，結(jié)晶度（EMA模式） t':*~b{V@7  
8.薄膜溫度特性 N8r+Q
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9.晶元曲率和薄膜耐壓性 Z^mIGy}  
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應(yīng)用實例，上海***研發(fā)中心2007年成功引進SCI的FilmTek&#8482;2000。 vcy+p]6KE-  
詳細信息請電話或郵件聯(lián)系EMD上海辦事處或前往SCI網(wǎng)站查詢，聯(lián)系方式如下： <;b  
電話021-61021226轉(zhuǎn)820/818    王小姐/陳先生 gi@&Mr)fS  
郵件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com U!"RfRD.<  
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EMD代理美國SCI高精準薄膜度量系統(tǒng)與軟件分析產(chǎn)品，美國SCI為世界薄膜度量系統(tǒng)和分析軟件行業(yè)的領(lǐng)軍者，提供專業(yè)的光學(xué)薄膜設(shè)計，材質(zhì)分析，橢圓偏振/分光光度測定軟件。目前SCI的光學(xué)薄膜軟件有：Film Wizard&#8482;，F(xiàn)ilmMonitor&#8482;，F(xiàn)ilmEllipse&#8482; XxB%  
8BS$6Pa  
Film Wizard&#8482; r 3T