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    [技術(shù)]光束足跡分析 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2022-02-10
    簡(jiǎn)介 \}9)`1D  
    Mae2L2vc  
    當(dāng)一個(gè)分析請(qǐng)求執(zhí)行時(shí),重要的是記住在FRED中的分析面只是在光線(xiàn)追跡結(jié)束后的后處理(過(guò)濾)光線(xiàn)。在光線(xiàn)追跡的過(guò)程中,它們不收集光線(xiàn)信息,無(wú)論光線(xiàn)的軌跡是否穿過(guò)分析網(wǎng)格。那么問(wèn)題來(lái)了,“如何分析在光線(xiàn)追跡的過(guò)程中光線(xiàn)穿過(guò)光學(xué)空間的光場(chǎng)?” xluA jOQ6  
    y!:vX6l  
    一種選擇是使用FRED探測(cè)器實(shí)體(Detector Entity)結(jié)構(gòu)。探測(cè)器實(shí)體與分析面類(lèi)似,不過(guò)它們可以放在任何光學(xué)空間,而且可以在光線(xiàn)追跡的過(guò)程中動(dòng)態(tài)地收集光線(xiàn)信息(即光線(xiàn)穿過(guò)它們的收集網(wǎng)格)。目前,探測(cè)器實(shí)體對(duì)于相干或偏振光不起作用,只可以執(zhí)行輻照度、照度和彩色圖像的分析。 sa/9r9hc+  
    ]9'F<T= $_  
    盡管FRED沒(méi)有一個(gè)內(nèi)置的“光束足跡分析”程序,但我們將在FRED中使用探測(cè)器實(shí)體結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)類(lèi)似的功能。 Pg`+Q^^6S  
    1:M'|uc  
    設(shè)置計(jì)算 =h=-&DSA  
    ;"e55|d9I  
    文章使用如下圖像所示的光學(xué)系統(tǒng)。我們的目的是分析沿著如下所示的光路多個(gè)平面的處的光束足跡。 i$}G[v<4  
    7<(U`9W/q  
    為了捕捉在光線(xiàn)追跡中光線(xiàn)透過(guò)每個(gè)我們感興趣平面的足跡,我們將會(huì)使用FRED中的探測(cè)器實(shí)體結(jié)構(gòu)。探測(cè)器實(shí)體是一種分析節(jié)點(diǎn)的類(lèi)型,它可以在光線(xiàn)追跡中與光線(xiàn)相互作用,可以定義多種多樣的形狀。光線(xiàn)相互作用,與光線(xiàn)濾光(一個(gè)后追跡過(guò)程)截然相反,使探測(cè)器實(shí)體能夠在任何光學(xué)空間任何時(shí)間動(dòng)態(tài)地收集數(shù)據(jù)。探測(cè)器實(shí)體本身能收集三個(gè)不同時(shí)間的數(shù)據(jù):在光線(xiàn)追跡中(即,使用在追跡中任何時(shí)刻與探測(cè)器實(shí)體相交的光線(xiàn)),剛好在光線(xiàn)追跡后(即,“終止”在探測(cè)器實(shí)體上的光線(xiàn)),或者根據(jù)請(qǐng)求(即,請(qǐng)求時(shí)“在”探測(cè)器實(shí)體上的光線(xiàn))。在一個(gè)具有和探測(cè)器實(shí)體相同名字的分析結(jié)果節(jié)點(diǎn)中,對(duì)于每個(gè)探測(cè)器實(shí)體來(lái)說(shuō),光線(xiàn)面元的結(jié)果對(duì)用戶(hù)來(lái)說(shuō)是可獲得的。記住,因?yàn)樘綔y(cè)器實(shí)體在光線(xiàn)追跡中時(shí)是交叉的,您不應(yīng)該放置一個(gè)探測(cè)器實(shí)體與結(jié)構(gòu)中的其他表面重合。不遵守這個(gè)規(guī)則可能會(huì)導(dǎo)致不一致的結(jié)果,這歸因于與交叉重合的對(duì)象相聯(lián)系的歧義性。 nGK=Nf.5  
    x*tCm8`{  
    與該文檔對(duì)應(yīng)的示例文件有5個(gè)平面探測(cè)器實(shí)體,位于系統(tǒng)中我們感興趣的平面上。這些探測(cè)器實(shí)體位于對(duì)象樹(shù)的分析面文件夾中,如下圖所示。 W>