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薄膜測(cè)量設(shè)備（膜厚、n、k等）

發(fā)布：george1977 2007-03-15 10:44 閱讀：3414
美國(guó)Filmetrics公司F20系列薄膜測(cè)量設(shè)備：可精確快速測(cè)量各種光學(xué)及半導(dǎo)體薄膜的厚度、折射率及消光系數(shù)等。 VX+:C(m~  
精度：0.4%或1埃 ZDl6 F`  
測(cè)量速度：秒級(jí) Er