帖子
勛章
關(guān)注
任務(wù)
薄膜測量設(shè)備（膜厚、n、k等） 精度：0.4%或1埃 測量速度：秒級 光譜范圍：紫外到紅外 厚度范圍：幾十埃到幾百微米 多種光接入方式（樣品測量平臺）。 詳情請來信或登錄www.clight.com.cn查看。 |
薄膜測量設(shè)備（膜厚、n、k等）精度：0.4%或1埃 測量速度：秒級 光譜范圍：紫外到紅外 厚度范圍：幾十埃到幾百微米 多種光接入方式（樣品測量平臺）。 詳情請來信或登錄www.clight.com.cn查看。 |
關(guān)于我們
網(wǎng)站介紹免責(zé)聲明 加入我們 贊助我們 |
服務(wù)項目
稿件投遞廣告投放 人才招聘 團購天下 |
幫助中心
新手入門發(fā)帖回帖 充值VIP 其它功能 |
站內(nèi)工具
清除Cookies無圖版 手機瀏覽 網(wǎng)站統(tǒng)計 |
交流方式
聯(lián)系郵箱：廣告合作 站務(wù)處理微信公眾號：opticsky 微信號：cyqdesign 新浪微博：光行天下OPTICSKY QQ號：9652202 |