探針臺主要應用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)。針對集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。 uri*lC  
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探針臺應用范圍：8寸以內(nèi)Wafer，IC測試，IC設計等 ULTNhq R*n  
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激光探針臺測試內(nèi)容： uA
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1. 微小連接點信號引出 _]EyEa  
2. 失效分析失效確認 \L %q[  
3. FIB電路修改后電學特性確認 kyK'  
4. 晶圓可靠性驗證 OT%V{hD  
5. 激光打標 ,$PFI(Whk  
6. 表層修復線路 @4&, #xo  
7. 驅除短路點 (qj,GmcS  
8. 激光斷線 uwId  
9. 干擾芯片測試