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手動探針臺適用范圍

發(fā)布:探針臺 2020-02-26 14:37 閱讀:2773
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探針臺應(yīng)用 ;=)k<6  
2020年比較艱難的開始了,好事多磨,相信經(jīng)歷過新型冠狀病毒的洗禮后,我國的經(jīng)濟(jì)會有爆發(fā)式的增長。開年伊始就收到很多朋友對手動探針臺使用問題的咨詢,在此收集整理供手動探針臺相關(guān)信息供大家參考。因經(jīng)驗(yàn)有限,有說的不合適的地方,望大家指正。 PUT=C1,OFR  
一:手動探針臺用途: JjtNP)We  
探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。 B+P(M!m3  
手動探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個可調(diào)測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進(jìn)行科研分析,抽查測試等用途。 >%}C^gu)  
手動探針臺應(yīng)用領(lǐng)域: YxYH2*q@  
Failure analysis  集成電路失效分析                   x kx^%3dV  
Wafer leve reliability晶元可靠性認(rèn)證 EN<F# Y3E  
Device characterization 元器件特性量測               `i3NG1 v0  
Process modeling塑性過程測試(材料特性分析) 3% #3iZ=_  
IC Process  monitoring  制成監(jiān)控                     D=j-!{zB  
Package part probing  IC封裝階段打線品質(zhì)測試 DR5\45v  
Flat paneprobing 液晶面板的特性測試                 )WNzWUfn=z  
PC board probing  PC主板的電性測試 _mqL8ho  
ESD&TDR testing    ESD和TDR測試                       T*Y~\~Jhu  
Microwave  probing  微波量測(高頻) Kr gFKRgGj  
Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析                               ?pW`cFLDHF  
LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析 wN_Vfb  
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二:手動探針臺的使用方式: n\Z!ff/  
1.將樣品載入真空卡盤,開啟真空閥門控制開關(guān),使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。 !Q2d(H>  
2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。 ] {RDV