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任務(wù)
芯片測試操作步驟 技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素： 針對現(xiàn)有技術(shù)中測試芯片中存在的上述問題，現(xiàn)提供一種旨在對芯片執(zhí)行測試的同時可將測試形成的測試結(jié)果進(jìn)行保存，從而有效減少數(shù)據(jù)存儲消耗的時間，有效的提高了測試效率的芯片測試的方法。 具體技術(shù)方案如下： 一種芯片測試的方法，應(yīng)用于芯片測試系統(tǒng)中，通過所述芯片測試系統(tǒng)對芯片執(zhí)行測試以及將所述芯片的測試結(jié)果進(jìn)行保存，所述測試芯片系統(tǒng)中包括多個測試項，其中，于所述測試系統(tǒng)中創(chuàng)建一測試線程，以及一存儲線程； 預(yù)先在所述測試系統(tǒng)的一個處理周期內(nèi)，定義所述測試線程執(zhí)行測試的測試時間以及所述存儲線程執(zhí)行存儲的存儲時間，其中所述處理周期等于所述測試時間和所述存儲時間之和； 包括以下步驟： 步驟S1、所述測試線程被啟動后，在所述測試時間內(nèi)調(diào)用所述測試項對所述芯片執(zhí)行測試，以獲得測試結(jié)果； 步驟S2、所述測試線程于測試結(jié)束后，調(diào)用所述存儲線程，所述存儲線程在所述存儲時間內(nèi)對所述測試結(jié)果進(jìn)行保存。 優(yōu)選的，獲取所述測試時間以及所述存儲時間的方法為： 步驟A1、將所述測試線程單獨(dú)執(zhí)行測試占用的時間定為R； 步驟A2、將所述存儲線程單獨(dú)保存所述測試結(jié)果占用的時間定為S； |
