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芯片測試新方法

發(fā)布：探針臺 2020-02-21 15:29 閱讀：2011
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芯片測試新方法 $afE= qC*  
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素： rCTH 5"  
本發(fā)明的主要目的在于提供一種芯片測試方法及芯片測試模塊，旨在縮短測試時間并降低測試成本。 {|Pg]#Wi&  
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種芯片測試方法，包括以下步驟： /l)|B  
對連接于所述芯片的測試模塊進(jìn)行測試； ^ rB7&96C,  
預(yù)設(shè)sign-off的值，并根據(jù)所述sign-off的值設(shè)置測試模塊的延時； 6|O2i j-J  
根據(jù)所述芯片預(yù)設(shè)的目標(biāo)頻率設(shè)置所述測試模塊的時鐘頻率； 4* vV9*'!  
判斷所述芯片的測試模塊在預(yù)設(shè)的時鐘頻率下是否正常工作：若所述測試模塊在預(yù)設(shè)時鐘頻率下能正常工作，則繼續(xù)對該芯片做完整的測試工作；若所述測試模塊在預(yù)設(shè)的時鐘頻率下不能正常工作，結(jié)束測試。 MkCq$MA  
優(yōu)選地，所述測試模塊的延時的值與所述預(yù)設(shè)的sign-off的值互為倒數(shù)。 ^G~C#t^  
優(yōu)選地，所述測試模塊的時鐘頻率與所述芯片的目標(biāo)頻率相等。 -3)]IA  
優(yōu)選地，所述測試模塊為連接于所述芯片電路的二分頻電路。 X4bB