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集成電路失效分析如何進(jìn)行

發(fā)布:探針臺(tái) 2020-02-20 12:41 閱讀:1402
一般來(lái)說(shuō),集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,通過(guò)芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。 %S"85#R5E  
失效分析的意義主要表現(xiàn) ^86M 94k  
具體來(lái)說(shuō),失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面: Av?R6  
失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。 */l;e<E  
失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 !\<a2>4$T  
失效分析為設(shè)計(jì)工程不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì),使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。 )A xD|A  
失效分析可以評(píng)估不同測(cè)試向量的有效性,為生產(chǎn)測(cè)試提供必要的補(bǔ)充,為驗(yàn)證測(cè)試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。
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