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集成電路失效分析如何進(jìn)行

發(fā)布:探針臺 2020-02-20 12:41 閱讀:1401
一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。 sk0/3X*Q%  
失效分析的意義主要表現(xiàn)? kI5LG6  
具體來說,失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個方面: |8x_Av0  
失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。 W=|'&UU Ul  
失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 %$Q!'+YW  
失效分析為設(shè)計工程不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計,使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。 NcX-* o  
失效分析可以評估不同測試向量的有效性,為生產(chǎn)測試提供必要的補(bǔ)充,為驗證測試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。
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