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掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用

發(fā)布：探針臺 2020-02-10 14:47 閱讀：1884
掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用 |nocz]yU$  
掃描電子顯微鏡SEM分析原理：用電子技術(shù)檢測高能電子束與樣品作用時產(chǎn)生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象 @dcW0WQ\  
譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等 }S%a]  
提供的信息：斷口形貌、表面顯微結(jié)構(gòu)、薄膜內(nèi)部的顯微結(jié)構(gòu)、微區(qū)元素分析與定量元素分析等 V ;>{-p  
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SEM測試項(xiàng)目 - FE)  
      1、材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察 <2,@rYe/  
      2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析 ]4hXK!^Uu  
      3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析 u}#rS%SF*  
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