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芯片失效分析公司,北京芯片失效分析,芯片失效分析,檢測(cè) 9"?;H%.  
失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服務(wù)項(xiàng)目 $9h^tP'CV  
提供客戶(hù)做IC組件失效分析,EFA(電性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需資源與設(shè)備 P{HR='2  
提供客戶(hù)一步到位的分析服務(wù) W/VEB3P>Z  
提供權(quán)威檢測(cè)報(bào)告 &14xYpD<  
可協(xié)助解決的故障分析的種類(lèi) 558!?kx$  
FIB,SEM,EDX,X-RAY,EMMI.IV,PROBE,RIE,DECAP等 測(cè)試后的失效分析服務(wù)