|.]:#)^X?  
Probe測試 ujo3"j[b  
在顯微鏡底下，利用探針搭接于IC內(nèi)部線路，使其可以外接各類設(shè)備，以便量測或輸入訊號。科技目前擁有的探針與應(yīng)用相關(guān)訊息如下: s@WF[S7D  
探針分為硬針、軟針及Active Probe。硬針之針尖主要規(guī)格為1 μm及5 μm；軟針之針尖為 < 1 μm，主要應(yīng)用在高頻電路及FIB probing PAD及Active Probe(200 MHz)。
ywPFL/@  
當分析樣品需使用如EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等儀器卻無無適當治具或socket可用時，可由點針方式提供訊號輸入輸出。 ~ jR:oN  
Wafer可搭配Probe card做各項測試。 OZHQnvZ  
探針Probe測試,北京探針測試公司,北京探針測試,檢測