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任務(wù)
探針測(cè)試probe應(yīng)用 Probe探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。 應(yīng)用范圍： 1.利用探針（軟針、硬針、pico probe針）測(cè)試芯片pad信號(hào)對(duì)fib 引出的十字pad進(jìn)行電性測(cè)量。 2.液晶發(fā)-漏電分析，利用夜景感測(cè)到IC漏電出分子排列重組，在顯微鏡下呈現(xiàn)出不同于其他區(qū)域的斑狀影像，找尋在實(shí)際分析中設(shè)計(jì)人員困擾的漏電區(qū)域（超過(guò)10mA之故障點(diǎn)） |
