通過(guò)微探針連接到芯片并引出所需信號(hào)，用于電學(xué)特性測(cè)試 ~@T+mHny  
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 6
R;)  
性能參數(shù) W\it+/  
ycgfZ 3K  
放大倍數(shù)50X，100X，200X，500X 1@A7h$1P  
Md8(`@`o  
8個(gè)探針座 e7@li<3>d  
jrm0@K+<IA  
帶屏蔽箱 bK3B3r#$  
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{ EA2  
H
Uj+-  
應(yīng)用范圍 $brKl8P  
i{gDW+N  
微小連接點(diǎn)信號(hào)引出，用于失效分析失效確認(rèn)，F(xiàn)IB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)等。