對(duì)芯片進(jìn)行開封處理后，在芯片正確執(zhí)行密碼運(yùn)算過程中，通過顯微鏡定位被攻擊芯片表面某一特定區(qū)域，通過示波器等觀察設(shè)備定位密碼算法運(yùn)行的某一特定時(shí)刻，注入合適能量大小的激光脈沖，使芯片的運(yùn)行產(chǎn)生非預(yù)期錯(cuò)誤，并分析采集到的錯(cuò)誤是否會(huì)造成芯片中敏感信息的泄露。 vdd>\r)v  
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服務(wù)內(nèi)容：1.光注入攻擊 <7o@7r'0  
          2.差分錯(cuò)誤分析 7%W@Hr,%F