驗(yàn)證及量測半導(dǎo)體電子組件的電性、參數(shù)及特性。比如電壓-電流。集成電路失效分析流程中，I/V Curve的量測往往是非破壞分析的第二步（外觀檢查排在第一步），可見Curve量測的重要性。 #SqOJX~Q  
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服務(wù)范圍：封裝測試廠，SMT領(lǐng)域等 Zwt!nh  
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服務(wù)內(nèi)容：1.Open/Short Test   'qM3.U  
                  2.I/V Curve Analysis MYx*W7X  
                  3.Idd Measuring ^Ue.9#9T&g  
                  4.Powered Leakage（漏電）Test uVO9r-O8p