探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)。針對(duì)集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。 Oi&w_ Z0  
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服務(wù)范圍：8寸以內(nèi)Wafer，IC測(cè)試，IC設(shè)計(jì)等 B+$Q"  
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h|uP=0   
服務(wù)內(nèi)容：1.微小連接點(diǎn)信號(hào)引出   :-@P3F[0  
          2.失效分析失效確認(rèn) b|@op>UZ