光刻工藝過程詳解
本文介紹光刻工藝過程,供相關(guān)專業(yè)人士參考。
本文介紹光刻工藝過程,供相關(guān)專業(yè)人士參考。 一般的光刻工藝要經(jīng)歷硅片表面清洗烘干、涂底、旋涂光刻膠、軟烘、對(duì)準(zhǔn)曝光、后烘、顯影、硬烘、刻蝕、檢測(cè)等工序。 1.硅片清洗烘干(cleaning and pre-baking) 方法:濕法清洗+去離子水沖洗+脫水烘焙(熱板150~2500c,1~2分鐘,氮?dú)獗Wo(hù)) 目的:a.除去表面的污染物(顆粒、有機(jī)物、工藝殘余、可動(dòng)離子);b.除去水蒸氣,是基底表面由親水性變?yōu)樵魉裕鰪?qiáng)表面的黏附性(對(duì)光刻膠或者是hmds-〉六甲 基二硅胺烷)。 2.涂底(priming) 方法:a.氣相成底膜的熱板涂底。hmds蒸氣淀積,200~2500c,30秒鐘;優(yōu)點(diǎn):涂底均勻、避免顆粒污染;b.旋轉(zhuǎn)涂底。缺點(diǎn):顆粒污染、涂底不均勻、hmds用量大。 目的:使表面具有疏水性,增強(qiáng)基底表面與光刻膠的黏附性。 3.旋轉(zhuǎn)涂膠(spin-on pr coating) 方法:a.靜態(tài)涂膠(static)。硅片靜止時(shí),滴膠、加速旋轉(zhuǎn)、甩膠、揮發(fā)溶劑(原光刻膠的溶劑約占65~85%,旋涂后約占10~20%);b.動(dòng)態(tài)(dynamic)。低速旋轉(zhuǎn)(500rpm_rotation per minute)、滴膠、加速旋轉(zhuǎn)(3000rpm)、甩膠、揮發(fā)溶劑。 決定光刻膠涂膠厚度的關(guān)鍵參數(shù):光刻膠的黏度(viscosity),黏度越低,光刻膠的厚度越薄;旋轉(zhuǎn)速度,速度越快,厚度越; 影響光刻膠均勻性的參數(shù):旋轉(zhuǎn)加速度,加速越快越均勻;與旋轉(zhuǎn)加速的時(shí)間點(diǎn)有關(guān)。 一般旋涂光刻膠的厚度與曝光的光源波長(zhǎng)有關(guān)(因?yàn)椴煌?jí)別的曝光波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)不同的光刻膠種類和分辨率):i-line最厚,約0.7~3μm;krf的厚度約0.4~0.9μm;arf的厚度約0.2~0.5μm。 4.軟烘(soft baking) 方法:真空熱板,85~1200c,30~60秒; 目的:除去溶劑(4~7%);增強(qiáng)黏附性;釋放光刻膠膜內(nèi)的應(yīng)力;防止光刻膠玷污設(shè)備; 5.邊緣光刻膠的去除(ebr,edge bead removal)。 光刻膠涂覆后,在硅片邊緣的正反兩面都會(huì)有光刻膠的堆積。邊緣的光刻膠一般涂布不均勻,不能得到很好的圖形,而且容易發(fā)生剝離(peeling)而影響其它部分的圖形。所以需要去除。 方法:a.化學(xué)的方法(chemical ebr)。軟烘后,用pgmea或egmea去邊溶劑,噴出少量在正反面邊緣出,并小心控制不要到達(dá)光刻膠有效區(qū)域;b.光學(xué)方法(optical ebr)。即硅片邊緣曝光(wee,wafer edge exposure)。在完成圖形的曝光后,用激光曝光硅片邊緣,然后在顯影或特殊溶劑中溶解; 6.對(duì)準(zhǔn)(alignment) 對(duì)準(zhǔn)方法:a.預(yù)對(duì)準(zhǔn),通過硅片上的notch或者flat進(jìn)行激光自動(dòng)對(duì)準(zhǔn);b.通過對(duì)準(zhǔn)標(biāo)志(align mark),位于切割槽(scribe line)上。另外層間對(duì)準(zhǔn),即套刻精度(overlay),保證圖形與硅片上已經(jīng)存在的圖形之間的對(duì)準(zhǔn)。 7.曝光(exposure) 曝光中最重要的兩個(gè)參數(shù)是:曝光能量(energy)和焦距(focus)。如果能量和焦距調(diào)整不好,就不能得到要求的分辨率和大小的圖形。表現(xiàn)為圖形的關(guān)鍵尺寸超出要求的范圍。 曝光方法: a.接觸式曝光(contact printing)。掩膜板直接與光刻膠層接觸。曝光出來(lái)的圖形與掩膜板上的圖形分辨率相當(dāng),設(shè)備簡(jiǎn)單。缺點(diǎn):光刻膠污染掩膜板;掩膜板的磨損,壽命很低(只能使用5~25次);1970前使用,分辨率〉0.5μm。 b.接近式曝光(proximity printing)。掩膜板與光刻膠層的略微分開,大約為10~50μm。可以避免與光刻膠直接接觸而引起的掩膜板損傷。但是同時(shí)引入了衍射效應(yīng),降低了分辨率。1970后適用,但是其最大分辨率僅為2~4μm。 |
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