大阪大學(xué)開發(fā)了一種在亞原子尺度上多向同時探測材料的顯微技術(shù)
原子力顯微鏡（AFM）是一種非常敏感的技術(shù)，使我們能夠通過一個精確控制的尖端來在原子尺度上對材料進行成像和/或表征它們的物理性能。然而，傳統(tǒng)的AFM只提供與表面垂直（Z方向）的力學(xué)分量，而忽略平行于表面的分量（X和Y方向）。 $lv
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雙模式原子力顯微鏡提供了亞原子分辨率的三維力矢量圖。懸臂同時在橫向和垂直方向擺動，以確定Ge(001)表面上的彎曲二聚體的矢量圖。圖片來源：大阪大學(xué) &8
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