200833 |
2017-01-06 17:29 |
靜態(tài)應(yīng)力作用下預(yù)測(cè)光學(xué)系統(tǒng)性能的計(jì)算方法
摘要: 本文通過(guò)計(jì)算預(yù)測(cè)光學(xué)性能的方法表征在光學(xué)系統(tǒng)組裝和外界環(huán)境因素影響下的光學(xué)系統(tǒng)靈敏度。該方法即通過(guò)調(diào)制傳遞函數(shù)來(lái)表征靜態(tài)機(jī)械應(yīng)力對(duì)光學(xué)物鏡性能的影響。采用光學(xué)干涉儀對(duì)經(jīng)過(guò)加工、 組裝且存在機(jī)械應(yīng)力的光學(xué)物鏡進(jìn)行測(cè)試, 并比較實(shí)驗(yàn)調(diào)制傳遞函數(shù)與計(jì)算模擬分析的調(diào)制傳遞函數(shù)。結(jié)果表明, 計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果相符, 證實(shí)了本文方法的有效性。
|
|