nancy-y |
2013-05-31 15:19 |
4D 干涉儀原理
4D動態(tài)干涉儀原理 } wx(P3BHD 4D動態(tài)干涉儀采用偏振光干涉原理,將傳統(tǒng)相移干涉儀的時(shí)間域相移轉(zhuǎn)換為空間域相移,并采用其獨(dú)創(chuàng)的相位相關(guān)的CCD技術(shù),使得一個(gè)CCD幀頻內(nèi)就可實(shí)現(xiàn)全分辨的測量。其原理圖如下圖所示: NMESGNa)z
`o21f{1]X& 光源發(fā)出的激光經(jīng)過PBS后分成偏振態(tài)不同的兩束光, 其中S偏振光射向樣品表面, P偏振光射向參考鏡. 樣品光和參考光被各自表面反射重新相會后, 由于偏振方向不同并不能發(fā)生干涉. 這樣合在一起的光經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)成像, 透過一塊掩模板(見下圖)進(jìn)入CCD. u24XuSe$
x M{SFF 68~5Dx 掩模板(定向微偏振片陣列)的單元結(jié)構(gòu)與CCD的像元一一對應(yīng)相關(guān). 上述合在一起的不同偏振態(tài)的光透過掩模板的每個(gè)單元后會發(fā)生干涉, 并且在不同像元位置發(fā)生干涉的相位是不同的. 這樣, 任意一組相鄰的4個(gè)像元都發(fā)生了具有固定相位差的干涉. 對每一組像元進(jìn)行相移干涉計(jì)算, 就可以獲得整個(gè)樣品表面的形貌數(shù)據(jù).由于像元的位相是周期變化的,則在計(jì)算時(shí)可以重復(fù)利用相鄰像元,從而實(shí)現(xiàn)全分辨的測量。 n>xuef • 4D 動態(tài)干涉儀的優(yōu)點(diǎn)及其應(yīng)用: R| XD#bG 1.適合于惡劣環(huán)境下的測量 # ELYPp]6 • 快速測量 – 測量速度只受曝光時(shí)間限制,而不受CCD幀頻限制! ps33& • 對振動不敏感 ol}}c6 • 減少了氣流的影響-可以使用風(fēng)扇均化光路氣流 G6s3\de#U 2.適合于挑戰(zhàn)性的測試設(shè)置 Lm+E?
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