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2012-09-20 11:36 |
美國(guó)海軍實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)碳納米管晶體管極具抗輻射能力
美國(guó)海軍研究實(shí)驗(yàn)室電子科技工程師近日表示，他們發(fā)現(xiàn)由單壁碳納米管制作的晶體管（SWCNT）具有在苛刻太空環(huán)境中生存的能力。目前他們正在研究電離子輻射對(duì)晶體結(jié)構(gòu)的影響，以及支持開(kāi)發(fā)以SWCNT為基礎(chǔ)的用于太空輻射環(huán)境的納米電子設(shè)備。 gr7_oJ:R
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實(shí)驗(yàn)室材料研究工程師科里·克瑞斯表示，環(huán)繞地球外圍的電粒子帶存在著輻射，太空電子設(shè)備面臨的主要挑戰(zhàn)之一是其長(zhǎng)時(shí)間暴露在輻射環(huán)境中而不易受到影響，新的研究顯示由碳納米管制作的晶體管具有極強(qiáng)的抗電離輻射能力，在有電離輻射的情況下其工作性能幾乎不變。 5sU nEHN
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通常，電離輻射對(duì)晶體管的影響有兩種形式，即暫態(tài)效應(yīng)和積累效應(yīng)。暫態(tài)效應(yīng)是指太空中電離子直接沖擊電子設(shè)備，導(dǎo)致電子設(shè)備中出現(xiàn)電流脈沖。如果該電流脈沖通過(guò)電路傳遞，那么它能讓數(shù)據(jù)中斷，這對(duì)那些依靠信號(hào)（如利用GPS導(dǎo)航）的人們而言是極其有害的。 L i^V?
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傳統(tǒng)電子設(shè)備的累積效應(yīng)是設(shè)備氧化層中產(chǎn)生陷阱電荷的結(jié)果。氧化層包括柵氧化層以及用來(lái)隔離相鄰設(shè)備的隔離層，后者是輻射誘發(fā)先進(jìn)互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）設(shè)備工作性能下降的主要原因。累積效應(yīng)最初能夠?qū)е侣╇�，并最終導(dǎo)致整個(gè)電路發(fā)生故障。 }8e %s;C
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