| 槐花村人 |
2010-07-28 18:49 |
光學測頭的原理與應用
光學測量作為一種非接觸式測量方法，在某些方面與接觸式三坐標測量相比具有本質上的優(yōu)勢。它不使用接觸式測針進行采點，而是利用了光的物理特性來進行測量，這樣就能夠完全避免測針補償帶來的潛在問題，也使被測物體表面不再受到測針接觸帶來的影響。而光學測頭的測量速度通常也遠遠高于觸發(fā)式測頭。首先，光學測頭的采點方式都是連續(xù)的，不需要進行測針歸位；而且在采點過程中，光學測頭也區(qū)別于觸發(fā)式測頭：觸發(fā)式測頭會因為接觸物體表面時速度過快而被認為發(fā)生了碰撞，而光學測頭則完全不會出現(xiàn)這個問題。 C I=M0
 Mk}*ze0% 圖2 紅寶石球與物體表面接觸 | |