光學測量光學測頭的應用與發(fā)展趨勢
傳統(tǒng)的接觸式三坐標測量機自1956年問世以來，已經(jīng)經(jīng)過了50多年的發(fā)展。目前已經(jīng)廣泛應用于生產(chǎn)車間及科研部門當中。隨著工業(yè)技術(shù)的不斷進步，對測量設備的各方面要求也不斷提高，三坐標測量機在此過程中也經(jīng)歷了無數(shù)次的技術(shù)創(chuàng)新以適應更高的測量要求。盡管如此，當今三坐標測量機依然在某些方面遇到了一定的技術(shù)瓶頸。這些瓶頸的產(chǎn)生不能簡單地歸結(jié)于技術(shù)創(chuàng)新的不足，其主因在于接觸式三坐標測量機的硬件結(jié)構(gòu)和測量原理上的限制。 m$_l{|4z
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傳統(tǒng)三坐標測量機配備最多的是觸發(fā)式測頭，用觸發(fā)式測頭測量物體時，測針以一定速度接觸物體表面，從而使測針的位置產(chǎn)生偏離，產(chǎn)生的電信號觸發(fā)測頭記錄一個物體表面測點的空間坐標。由此帶來的第一個問題就是測量速度較慢。其原因在于，首先觸發(fā)式測頭的采點方式是非連續(xù)的，測頭在一次采點完成后需退回一段距離，讓測針歸位后才能進行第二次采點。而且采點時接觸物體表面的速度不能太快，若測針接觸物體速度過快使得測針的位置偏離過大，則信號會被認為是發(fā)生了碰撞而采點失敗。出于這個原因可以用掃描式測頭代替觸發(fā)式測頭，掃描式測頭采用的是連續(xù)采點方式，因此采點速度得到較大提升。購買后，將顯示帖子中所有出售內(nèi)容。 c1_Z i
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