| cyqdesign | 2010-01-31 23:06 |
半導(dǎo)體材料與器件表征技術(shù),作者:(美國)施羅德,譯者:大連理工半導(dǎo)體研究室本版經(jīng)修訂及擴展，增加了許多逐漸成熟起來的表征技術(shù)，如從探測硅晶圓中金屬雜質(zhì)的掃描探針到用于無接觸式電阻測量的微波反射技術(shù)。本版特色如下： 增加了可靠性和探針顯微技術(shù)方面的全新內(nèi)容；增加了大量例題和章后習(xí)題；修訂了500幅圖例；更新了超過1200條參考文獻；采用了更合適的單位制，而不是嚴(yán)格的MKS單位制。 《半導(dǎo)體材料與器件表征技術(shù)》可作為碩士、博士研究生的教材，也可供高校教師、半導(dǎo)體工業(yè)研究人員參考使用。 DIETER K.SCHRODER是亞利桑那州立大學(xué)電子工程系教授，亞利桑那州立大學(xué)工程學(xué)院教學(xué)杰出貢獻獎獲得者，曾著《現(xiàn)代MOS器件》一書。 全書共分電學(xué)表征、光學(xué)表征和物理表征三個部分，主要對半導(dǎo)體材料和器件表征技術(shù)作了介紹，具體內(nèi)容包括電阻率、載流子和摻雜濃度、載流子壽命、光學(xué)表征、物理化學(xué)特性的表征等�！栋雽�(dǎo)體材料與器件表征技術(shù)》在國外被廣泛選用為研究生專業(yè)課教材及工程技術(shù)人員的參考書，并在文獻中被大量引用。 [attachment=24336] 市場價：¥99.80 優(yōu)惠價：¥79.90 為您節(jié)�。�19.90元 (80折)  第1章 電阻率 1.1 簡介 1.2 兩探針與四探針 練習(xí)1.1 1.2.1 修正因子 練習(xí)1.2 練習(xí)1.3 練習(xí)1.4 1.2.2 任意形狀樣品的電阻率 1.2.3 測量電路 1.2.4 測量偏差和注意事項 1.3 晶片映像 1.3.1 二次注入 1.3.2 調(diào)制光反射 | |