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2010-01-27 10:46 |
三維掃描儀的光柵編碼法測(cè)量原理
三維掃描儀光柵編碼法測(cè)量組成原理如圖1 所示，光源照射光柵，經(jīng)過(guò)投射系統(tǒng)將光柵條紋投射到被測(cè)物體上，經(jīng)過(guò)被測(cè)物體形面調(diào)制形成測(cè)量條紋，由雙目攝像機(jī)接受測(cè)量條紋，應(yīng)用特征匹配技術(shù)、外極線約束準(zhǔn)則和立體視覺(jué)技術(shù)獲得測(cè)量曲面的三維數(shù)據(jù)。
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三維掃描儀的光柵編碼法測(cè)量原理圖
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