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cyqdesign 2010-01-03 17:14

現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準(作者:徐德衍,王青)

《現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準》重點介紹了光學元件檢測領(lǐng)域的近期進展、方法、技術(shù)和需求。全書共10章,主要論述了現(xiàn)代光學的發(fā)展對光學元件檢測的需求;計量概念與誤差及精度的必要知識;光學元件檢測基礎(chǔ);光學元件的參數(shù)檢測和性能檢測的現(xiàn)行技術(shù),側(cè)重對特殊元件、光學表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等內(nèi)容的敘述;介紹了光學元件技術(shù)要求和檢測要求的國際標準(ISO10110)的最新內(nèi)容和相關(guān)的輔助資料。《現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準》附錄匯總了光學檢測中4個常用的資料及相關(guān)的參考書籍。 0\yA6`}!  
《現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準》可供從事光學、光學工程(尤其光學制造技術(shù)與檢驗)的科技人員與工藝技術(shù)人員參考,也可供大專院校有關(guān)專業(yè)的師生閱讀。 N/N~>7f  
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現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準目錄 h2m@Q={  
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前言 77p8|63  
第1章 概論光學元件的現(xiàn)代發(fā)展及其對光學檢測的需求 ]F*fQ Ncjy  
1.1 現(xiàn)代光學檢測的重要性 S/7?6y~  
1.1.1 光學元件檢測的重要性 <Is~DjIav  
1.1.2 光學元件檢測儀器與技術(shù)現(xiàn)狀 5Ls ][l7  
1.2 現(xiàn)代光學元件制造發(fā)展的特點 _ "H&  
1.2.1 以多功能、精密化為特點的大型化甚至巨型化光學工程和儀器牽引著現(xiàn)代光學制造業(yè)的發(fā)展 ~k'SP(6#C  
1.2.2 以大批量化、產(chǎn)業(yè)化為特征的小型和超小型化的光學元件及大型和超大型化的光學元件需求量猛增 P jh3=Dr  
1.2.3 以多樣化、高精度為特點的各種光學元件對光學制造與檢測提出了全新的要求 v_e3ZA:%  
1.3 現(xiàn)代光學元件檢測技術(shù)的需求 }w/6"MJ[n  
1.3.1 大平面光學元件的檢測 yk&PJ;%O<  
1.3.2 大球面光學元件的檢測 qO}Q4a+  
1.3.3 小非球面鏡的檢測 78/,rp#'_  
1.3.4 柱面鏡元件的檢測 ]?a i  
1.3.5 角錐棱鏡的檢測 k^*S3#"  
1.3.6 批量生產(chǎn)的小光學元件的檢測 q!\4|KF~  
1.4 光學元件技術(shù)要求和檢驗要求的國際標準(ISO10110) MPD<MaW$  
1.4.1 ISO10110的產(chǎn)生背景 ,\=,,1_  
1.4.2 基本內(nèi)容及簡要說明 QNm8`1  
1.4.3 學習ISO10110的重要性 cCbZ*  
參考文獻 %oHK=],|1  
:"I!$_E'  
第2章 計量的基本概念與誤差理論知識 S!+}\*  
2.1 計量法律法規(guī)知識 MC;2.e`  
2.1.1 計量法知識 bE>"DP q  
2.1.2 國防計量監(jiān)督管理條例知識 fKOC-%w  
2.1.3 法定計量單位簡介 zX}t1:nc  
2.1.4 單位使用中的方法及規(guī)定 g=]VQ;{  
2.2 計量學的基本知識 <3C/t|s  
2.2.1 測量與計量 =WM^i86  
2.2.2 計量器具 CWw#0  
2.2.3 計量器具的誤差 TNkvdE-S  
2.2.4 測量方法 yttaZhK^u  
2.3 誤差理論基本知識 85Red~-M  
2.3.1 真值與誤差  jWqjGX`  
2.3.2 誤差在測量值中的表現(xiàn)規(guī)律 kqQT^6S   
2.3.3 隨機誤差的處理——算術(shù)平均值 6,a:s:$>}R  
2.3.4 系統(tǒng)誤差的處理——發(fā)現(xiàn)與減小 6tF_u D  
2.3.5 粗大誤差的處理——判別與剔除 u4vyj#V  
2.3.6 測量列數(shù)據(jù)處理實例 yr/G1?k%ML  
2.4 精度、誤差及測量的可靠性 H?_>wQj&  
2.4.1 測量精度概念的解析 K2 6`wt  
2.4.2 測量可靠性的認識 7oV$TAAf  
2.4.3 測量不確定度 5L\&"['  
2.5 數(shù)據(jù)處理 K$/&C:,Q  
2.5.1 有效數(shù)字 a|eHo%Qt  
2.5.2 有效數(shù)字的數(shù)值計算規(guī)則 x7ZaI{    
2.5.3 誤差合成的方和根法 <sli!rv  
2.5.4 微小誤差的取舍 R,dbq4xkl  
2.5.5 不同測量之間的數(shù)據(jù)比較——En評定 7]H<ou  
參考文獻 ?!HU$>  
T7~H|%  
第3章 光學元件檢測基礎(chǔ) <NXJ&xs-+  
3.1 光源與接收器 d