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易水河 2007-08-25 09:32

光學(xué)表面檢測的理論依據(jù)

各位大俠： (3e.q'  
    在光學(xué)冷加工車間來判斷光學(xué)表面是否符合要求，一般采用擠壓法來判斷。 t FU4%c7V  
    在有些書中用平面干涉儀來判斷。見附件圖示。請問，這種根據(jù)干涉條紋的形狀判斷待測面是凸還是凹有什么理論依據(jù)？ ~