紅外光學(xué)系統(tǒng)的抗干擾方法介紹
在多數(shù)情況下，相對(duì)于可見(jiàn)光而言，紅外目標(biāo)為低對(duì)比度的弱目標(biāo)；紅外光學(xué)零件的剩余反射率也比可見(jiàn)光大的多，因此紅外光學(xué)系統(tǒng)的自身抗干擾能力很低，紅外系統(tǒng)對(duì)溫度分辨率的要求越來(lái)越高，通常都要求對(duì)0.1℃以下物體的細(xì)小溫差進(jìn)行分辨。要使紅外系統(tǒng)在惡劣環(huán)境條件下始終獲得穩(wěn)定清晰的圖像，除了電子學(xué)盡可能降低噪聲外，光學(xué)系統(tǒng)往往要采取多種措施來(lái)抑制和降低這些干擾。 `_f3o ,5
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紅外探測(cè)器所接收到的輻射主要由三部分組成：①目標(biāo)輻射；②直接到達(dá)探測(cè)器的內(nèi)部輻射；③通過(guò)透鏡表面的反射到達(dá)探測(cè)器的內(nèi)部輻射，這其中包括鏡筒的熱輻射與探測(cè)器自身的冷輻射，即一次冷反射像(Narcissus)。對(duì)于具有內(nèi)置掃描器的紅外光學(xué)系統(tǒng)，這些內(nèi)部輻射都將對(duì)圖像造成致命的干擾，產(chǎn)生固有的圖像缺陷。 cW MZ w|t
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抗干擾的主要方法有： SBYRN##n_
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