線下課程——薄膜設計與鍍膜工藝(12月4~6日)
課程編號CS240016 ^N<aHFF KcV"<9rE 時間地點 .$-;`&0cZ zRjbEL 主辦單位:訊技光電科技(上海)有限公司;蘇州黌論教育咨詢有限公司 = cxO@Fu 授課時間:2024年12月4 (三)-6(五)共3天 AM 9:00-PM 16:00 hD5@PeLh 授課地點:上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室 OG<*&V 課程講師:訊技光電高級工程師&資深顧問 jj&G[-"bv 課程費用:4800RMB(課程包含課程材料費、開票稅金、午餐) rwDLBpk *x8~}/[T(F 特邀專家介紹 h:pgN,W}
[Z/P[370 易葵:中國科學院上海光機所正高級工程師,主要從事光學薄膜設計、制備工藝和測試相關方面的研究工作,尤其是在高功率激光薄膜、空間激光薄膜、X射線多層膜、真空鍍膜技術與薄膜制備工藝研究等方面有較為深入的研究。獲得國家技術發(fā)明獎二等獎、上海市技術發(fā)明獎一等獎、上海市科技進步二等獎、軍隊科技進步二等獎等獎項,入選2014年度中科院“現(xiàn)有關鍵技術人才”。 &pI\VIx ? &G%AQpDW5 課程簡介 vltE2mb =&pR=vl 隨著現(xiàn)代科技的飛速發(fā)展,光學薄膜的應用越來越廣泛。光學薄膜的發(fā)展極大地促進了現(xiàn)代光學儀器性能的提高,其種類非常廣泛,如增透膜,高反膜,分光膜,濾光片等,光學薄膜器件如今已經(jīng)廣泛應用到光通信技術、光伏產(chǎn)業(yè)技術、激光技術、光刻技術、航空航天技術等諸多領域。本次課程第一天主要為國際知名的光學薄膜分析軟件Essential Macleod的使用,第二天為各種類型的光學薄膜的設計模擬方法,前兩天主講人為訊技光電高級工程師,第三天特別邀請上海光學精密機械研究所專家易葵,分享光學薄膜制備工藝、激光薄膜關鍵技術以及光學薄膜的測量方法等相關內(nèi)容。 49E|
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^q \Nik`v*Pd 課程大綱 :gRrM)n *P
*.'XM 1. Essential Macleod軟件介紹1.1 介紹軟件 ]Qe~|9I 1.2 創(chuàng)建一個簡單的設計1.3 繪圖和制表來表示性能 AT
t.}- 1.4 通過剪貼板和文件導入導出數(shù)據(jù)1.5 可用的材料模型(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann) %rs2{Q2k 1.6 特定設計的公式技術1.7 交互式繪圖 >
U3>I^Y 2. 光學薄膜理論基礎2.1 垂直入射時的界面和薄膜特性計算 Lb$Uba-_ 2.2 后表面對光學薄膜特性的影響3. 材料管理 s8(Z&pQ 3.1 材料模型3.2 介質(zhì)薄膜光學常數(shù)的提取 ]kNxytH\o 3.3 金屬薄膜光學常數(shù)的提取3.4 基板光學常數(shù)的提取 bzpi7LKN 4. 光學薄膜設計優(yōu)化方法4.1 參考波長與g 4Ty?>'*| 4.2 四分之一規(guī)則4.3 導納與導納圖 rIPg,4y*S! 4.4 斜入射光學導納4.5 光學薄膜設計的進展 |8}y?kAC 4.6 Macleod軟件的設計與優(yōu)化功能4.6.1 優(yōu)化目標設置 ;,Vdj[W$> 4.6.2 優(yōu)化方法(單一優(yōu)化,合成優(yōu)化,模擬退火法,共軛梯度法,準牛頓法,針形優(yōu)化,差分演化法)4.6.3 膜層鎖定和鏈接 f|~'(~Sr 5. 光學薄膜系統(tǒng)設計與分析案例與應用5.1 減反射薄膜 L`M{bRl+1 5.2 分光膜5.3 高反射膜 im<!JMI 5.4 干涉截止濾光片5.5 窄帶濾光片 suQ`a_zJ 5.6 負濾光片5.7 非均勻膜與Rugate濾光片 tx;2C|S$oU 5.8 仿生蛾眼/復眼結(jié)構(gòu)5.9 顏色膜 <EyJ $$ 5.10 Vstack薄膜設計示例5.11 Stack應用范例說明 OtL~NTY 6. 薄膜性能分析6.1 電場分布 O^c?w8 6.2 公差與靈敏度分析6.3 反演工程 nS$4[!0 6.4 均勻性,摻雜/孔隙材料仿真7. 真空技術 oBai9 [+ 7.1 常用真空泵介紹7.2 真空密封和檢漏 s7E %Et 8. 薄膜制備技術8.1 常見薄膜制備技術 K&._fG 9. 薄膜制備工藝9.1 薄膜制備工藝因素 Nc6y]eGz 9.2 薄膜均勻性修正技術9.3 光學薄膜監(jiān)控技術 \zVp8MMf 10. 激光薄膜10.1 薄膜的損傷問題 $igMk'%Nmb 10.2 激光薄膜的制備流程10.3 激光薄膜的制備技術 w2 (}pz: 11. 光學薄膜特性測量11.1 薄膜光譜測量 i]zh8|"> 11.2 薄膜光學常數(shù)測量11.3 薄膜應力測量 ^38kxwh 11.4 薄膜損傷測量11.5 薄膜形貌、結(jié)構(gòu)與組分分析 cJT_Qfxx 對此課程感興趣可以掃碼加微聯(lián)系[attachment=130513]
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